2013/09/26 Category : 未選択 シャープ、太陽電池モジュールの新たな品質評価規格を策定 IEC規格(※1)とVDE独自規格(※2)に適合 太陽電池モジュールの新たな品質評価規格を策定(※3) シャープは、電気製品の安全性に関する国際的な第三者認証機関であるVDE Testing and Certification Institute(以下VDE(※2))が定める品質評価基準を取り入れた、太陽電池モジュールの新たな品質評価規格を策定しました(※3)。今後、発売する結晶太陽電池モジュール新製品を対象に運用を開始します。 当社は、国際的な品質評価基準であるIEC規格(※1)に独自の品質評価規格を加え、太陽電池モジュールの長期信頼性を検証しています。30年間にわたり発電を続けている奈良県の壷阪寺(1983年設置)の事例から得られるデータを、自然環境下より厳しい高温・高湿状態で意図的に劣化を進める「加速劣化試験」に活用するとともに、「耐PID試験(※4)」や「繰り返し風圧試験」などの項目を加えて、評価を行ってきました。 今般、VDE(※2)が定める「繰り返し風圧試験」や「端子強度試験」などの基準を新たに取り入れることで、IEC規格(※1)とVDE独自規格(※2)に適合する品質評価規格を策定しました。これにより、従来個別に認証を取得していた評価期間が短縮されます。 当社は今後も、厳格な品質評価規格に基づいた、高品質で長期間安心して使用できる太陽電池モジュールを提供してまいります。 ※1:電気工学、電子工学および関連した技術を扱う国際的な標準化団体(IEC:International Electrotechnical Commission)が定める規格。性能・信頼性を検証する“IEC61215(ed.2)”および安全性を検証する“IEC61730-2(ed.1)”を指す。 ※2:VDE:1893年に設立されたドイツ最大の電気・電子技術協会。電気分野のドイツ国家規格の策定、安全認証・試験を実施。 VDE独自規格:Quality Tested。VDEが、Fraunhofer ISE(ヨーロッパ最大の研究機関)およびドイツの太陽電池産業界と共同で開発した太陽電池モジュールに対する長期信頼性試験プログラム。 ※3:当社の結晶太陽電池モジュールを評価する規格として。 ※4:PID(Potential Induced Degradation)。高温、高湿および高いシステム電圧による影響で、電気出力の低下が起こる現象。 PR Comment0 Comment Comment Form お名前name タイトルtitle メールアドレスmail address URLurl コメントcomment パスワードpassword