2013/12/15 Category : 未選択 JFEテクノリサーチ、赤外線カメラ応用診断システムのソフトを開発 赤外線カメラ応用診断システムのソフトウェア開発について■概要 JFEテクノリサーチ（株）（本社：東京都千代田区大手町２－７－１ JFE商事ビル、代表取締役：影近博）は、赤外線カメラを利用した各種の計測、診断システムに用いる処理・解析ソフトウェアを開発し、それらを搭載したシステム装置の販売を開始しました。 測定対象物から放出される赤外線輻射エネルギーを検出して温度に換算し、２次元での温度分布として画像表示する技術を赤外線サーモグラフィと呼びますが、この技術を応用して微小な温度変化を計測することにより、対象の表面や内部の情報を捉えることができます。 JFEテクノリサーチ（株）では、赤外線サーモグラフィ技術を利用してプロセスや製品の監視、温度計測、各種材料の品質計測や欠陥検出、設備の異常診断などを行うシステムの販売、受託計測・診断を行ってきましたが、様々な産業界におけるお客様の多様なご要望にお応えするために、サーモグラフィの処理・解析に用いるより高度なソフトウェアを自社開発し、それらのソフトウェアを搭載したシステムの販売を開始しました。製品品質の安定化、生産効率の向上、製造プロセスの長寿命化などのニーズに対応するため、柔軟なシステムをご提供していきます。■詳細１）基本原理：アクティブサーモグラフィ法を利用しています。これは、外部から熱を加え、加熱、冷却を繰り返す過程での熱画像を撮像し、それらの複数の熱画像を処理して計測する方法です。測定対象物への加熱方法としては、ランプ加熱、超音波加振、熱風加熱等があります。また、引張り試験機により直接対象物に力を繰り返して加えることにより微小な熱変化を発生させ、熱画像を解析する方法も利用します。２）ソフトウェアの基本機能：以下の基本機能を有します。 ・赤外線カメラの制御・熱画像取り込み機能 ・ロックイン演算処理機能 ・カラー温度分布画像の表示機能 ・画像および測定データの保存機能 ・各種フィルタを用いた画像処理機能 ・応力測定・解析機能３）ロックイン演算処理技術：基本となる演算手法としてロックイン法を適用しています。 ・繰返し撮像される熱画像と共に、加熱変化を与える信号を取り込み、この取込信号を参照信号として画像を同期検波処理することで、ノイズを低減した温度変化画像が算出できます。 ・参照信号が取り込めない場合は、熱画像自体の温度変化に基づくロックイン演算（自己相関ロックイン）も可能です。 ・測定対象物に繰返し力を加えると、熱弾性効果に基づく温度変化が生じます。弾性領域では、圧縮の場合は温度が上昇し、引張りの場合には温度が低下します。本システムでは、発生する微小な温度変化量を高精度、高分解能に測定して信号処理を加え、応力値に換算します。４）システムの特徴：以下の特徴を持つことから、様々なニーズにお応えすることができます。 ・自社ソフトウェアですので、お客様のご要望に応じたソフトウェアのカスタマイズが可能です。例えば、基礎実験用装置としてだけでなく、製造ラインでの連続検査、抜き取りバッチ検査等への展開が容易に行えます。 ・赤外線カメラとしては、検出素子の種類や素子数、検出波長、応答速度などの条件が異なる多種類のカメラが販売され、多くの用途に利用されていますが、お手持ちの赤外線カメラに対してロックイン解析機能を追加することが可能です。適用が可能となるカメラ情報をお問い合わせいただいて対応いたします。■用途１）鋼構造物や設備の亀裂進展モニタリング：疲労亀裂が発生して進展する条件下での応力集中、局所的に微弱な塑性発熱が生じることを利用した亀裂の検出２）内部欠陥検査：セラミクス、焼結材、CFRP等の内部剥離、表面割れ、混入物等の検出３）不具合箇所特定：各種機械部品、MEMS部品、設備・プラントの発熱解析による不具合箇所の特定４）応力解析：動的な応力を付加することで表面に発生する熱変化を測定し、熱弾性効果の原理を用いて応力値に換算して２次元分布を表示５）電池熱解析：各種電池材料の充放電時の異常発熱解析 PR Comment0 Comment Comment Form お名前name タイトルtitle メールアドレスmail address URLurl コメントcomment パスワードpassword
